Interested Article - 3 nm

3 nm ( рус. 3 нм ) [ прояснить ] — в производстве полупроводников 3-нм процесс является следующей ступенью миниатюризации техпроцесса после 5-нанометрового . По состоянию на 2022 год тайваньский производитель микросхем TSMC планирует запустить в серийное производство 3-нм полупроводниковый узел под названием N3 ко второй половине 2022 года. Усовершенствованный 3-нм процесс производства микросхем под названием N3e может начаться в 2023 году. Южнокорейский производитель микросхем Samsung официально ориентируется на те же сроки, что и TSMC (по состоянию на май 2022 года), с началом производства 3 нм в первой половине 2022 года с использованием технологии 3GAE и 3-нм техпроцессом 2-го поколения (3GAP), который последует в 2023 году , в то время как, согласно другим источникам, 3-нм-технологический процесс Samsung дебютирует в 2024 году. Американский производитель Intel планирует начать 3-нм производство в 2023.

3-нм технологический процесс Samsung основан на технологии GAAFET (gate-all-around field-effect transistor), процесс TSMC по-прежнему будет использовать технологию FinFET (fin field-effect transistor), несмотря на то, что TSMC разработала GAAFET-транзистор. В частности, Samsung планирует использовать свой собственный вариант GAAFET под названием MBCFET (многомостовый полевой транзистор). 3-нм техпроцесс Intel (получивший название «Intel 3» без суффикса «nm») будет использовать усовершенствованную, улучшенную и оптимизированную версию технологии FinFET: с увеличенной производительностью на ватт, использованием EUV-литографии, увеличением мощности микросхемы и её площади.

Термин «3 нанометра» не имеет отношения к физической характеристике транзисторов (такой как длина затвора, шаг металлических проводников или шаг затвора) . Согласно прогнозам, содержащимся в обновлении Международной плане для устройств и систем на 2021 год, опубликованном Ассоциацией стандартов IEEE Industry Connection, ожидается, что 3-нанометровый узел будет иметь шаг контактного затвора 48 нанометров и максимально плотный шаг металла 24 нанометра. Однако в реальной коммерческой практике «3 нм» используется в основном как маркетинговый термин отдельными производителями микросхем для обозначения нового улучшенного поколения кремниевых полупроводниковых чипов с увеличением плотности транзисторов (то есть большей степени миниатюризации), увеличением скорости и снижением энергопотребления. Более того, нет единого соглашения о том, какие числа считать 3-нм процессом. Обычно производитель ссылается на свой предыдущий технологический узел (в данном случае на 5-нм технологический узел) для сравнения. Например, TSMC заявила, что ее 3-нм чипы FinFET снизят энергопотребление на 25-30 % при той же скорости, увеличат скорость на 10-15 % при той же мощности и увеличат плотность транзисторов примерно на 33 % по сравнению с предыдущими 5-нм чипами FinFET. Samsung заявила, что ее 3-нм техпроцесс снизит энергопотребление на 45 %, улучшит производительность на 23 % и уменьшит площадь поверхности на 16 % по сравнению с предыдущим 5-нм техпроцессом.

EUV продолжает использоваться в 3 нм, однако требует мультипаттернинга.

История

Демонстрации исследований и технологий

В 1985 году исследовательская группа Nippon Telegraph and Telephone (NTT) изготовила устройство MOSFET (NMOS) с длиной канала 150 нм и толщиной оксида затвора 2,5 нм. В 1998 году исследовательская группа Advanced Micro Devices (AMD) изготовила устройство MOSFET (NMOS) с каналом длина 50 нм и толщиной оксида 1,3 нм.

В 2003 году исследовательская группа NEC изготовила первые МОП-транзисторы с длиной канала 3 нм, используя процессы PMOS и NMOS. В 2006 году команда из Корейского передового института науки и технологий (KAIST) и Национального центра нанотехнологий разработала многозатворный MOSFET шириной 3 нм, самое маленькое в мире наноэлектронное устройство, основанное на технологии gate-all-around (GAAFET).

Коммерческое применение

В конце 2016 года TSMC объявила о планах строительства завода по производству полупроводниковых узлов 5 нм-3 нм с совместными инвестициями в размере около 15,7 млрд долларов США .

В 2017 году TSMC объявила о начале строительства завода по производству полупроводников 3 нм в научном парке Тайнань на Тайване . TSMC планирует начать массовое производство 3-нм технологического узла в 2023.

В начале 2018 года ИМЕК (бельгийский Межвузовский центр микроэлектроники) и компания Cadence заявили, что они подготовили дизайны для 3-нм тестовых чипов с с использованием экстремальной ультрафиолетовой (EUV) и 193-нм иммерсионной литографии.

В начале 2019 года Samsung представила планы по производству 3-нм GAAFET в 2021 году, намереваясь использовать собственную структуру нанолистовых транзисторов MBCFET и обеспечивая увеличение производительности на 35 %, снижение мощности на 50 % и уменьшение площади на 45 % по сравнению с 7 нм. Дорожная карта Samsung по производству полупроводников также включала продукты с 8, 7, 6, 5 и 4-нм процессами.

В декабре 2019 года Intel объявила о планах по производству 3 нм в 2025 году.

В январе 2020 года Samsung объявила о производстве первого в мире прототипа 3-нм GAAFET-процесса и заявила, что планирует массовое производство в 2021 году.

В августе 2020 года TSMC объявила подробности своего 3-нм процесса N3, который является скорее обновлением 5-нм процесса N5. N3 должен обеспечить на 10-15 % (1,10-1,15×) увеличение производительности или на 25-35 % (1,25-1,35×) снижение энергопотребления при увеличении плотности логики в 1,7 раза.

В июне 2022 года на технологическом симпозиуме компания TSMC поделилась подробностями своего технологического процесса N3E, запланированного к массовому производству в 2023 H2 и позволяющего: увеличить плотность логических транзисторов в 1,6 раза, физических транзисторов в 1,3 раза, увеличить производительность на 10-15 % при заявленной мощности или снизить потребление на 30-35 % при той же производительности по сравнению с TSMC N5 v1.0. Заявлена технология FinFLEX, позволяющая смешивать библиотеки с разной высотой дорожки внутри блока. TSMC также представила новые разновидности 3-нм-технологических процессов: высокоплотный вариант N3S, высокопроизводительные варианты N3P и N3X, а также N3RF для радиочастотных приложений.

В июне 2022 года Samsung начала пробное производство маломощного высокопроизводительного чипа с использованием 3-нм технологического процесса с архитектурой GAA. Согласно отраслевым источникам, Qualcomm зарезервировала часть производственных мощностей 3 нм у Samsung.

25 июля 2022 года Samsung отпраздновала первую поставку 3-нм универсальных чипов для китайской компании по добыче криптовалют PanSemi. Было показано, что недавно введенный 3-нм техпроцесс MBCFET обеспечивает на 16 % более высокую плотность транзисторов, на 23 % более высокую производительность или на 45 % меньшую потребляемую мощность по сравнению с неназванным 5-нм техпроцессом. Цели 3-нм техпроцесса второго поколения включают увеличение плотности транзисторов на 35 %, дальнейшее снижение потребляемой мощности до 50 % или повышение производительности на 30 %.

12 сентября 2023 года компания Apple заявила о использовании 3-нм мобильных процессоров Apple A17 Pro , содержащих 19 миллиардов транзисторов в титановых iPhone 15 Pro .

3-нм технологические процессы на рынке

Samsung TSMC Intel
Название процесса 3GAE 3GAP N3 N3E 3
Тип транзисторов MBCFET MBCFET FinFET FinFET FinFET
Плотность транзисторов (Mтр/мм 2 ) 202,85, 150 195 314,73, 220 180 Неизвестно
Размер ячейки SDRAM (мкм 2 ) Неизвестно Неизвестно Неизвестно Неизвестно Неизвестно
Шаг затвора транзистора (нм) 40 Неизвестно 45 Неизвестно Неизвестно
Шаг межсоединения (нм) 32 Неизвестно 22 Неизвестно Неизвестно
Статус производства 2022: опытное производство,

2022: производство, 2022: отгрузка

2023: производство 2021: опытное производство,

2 половина 2022: производство, 1 квартал 2023: коммерческая отгрузка

2023: производство 2023: опытное производство, 2024: производство

Примечания

  1. . www.anandtech.com . Дата обращения: 9 декабря 2022. 9 декабря 2022 года.
  2. . web.archive.org (20 апреля 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 20 апреля 2022 года.
  3. Ramish Zafar, Ramish Zafar. (англ.) . Wccftech (4 марта 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. 16 марта 2022 года.
  4. . web.archive.org (8 апреля 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. 8 апреля 2022 года.
  5. . web.archive.org (10 мая 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. 10 мая 2022 года.
  6. btarunr Discuss. (англ.) . TechPowerUp . Дата обращения: 9 декабря 2022. 17 декабря 2021 года.
  7. Dr Ian Cutress. www.anandtech.com . Дата обращения: 9 декабря 2022. 3 ноября 2021 года.
  8. Chaim Gartenberg. (англ.) . The Verge (26 июля 2021). Дата обращения: 9 декабря 2022. 20 декабря 2021 года.
  9. (англ.) . Intel . Дата обращения: 9 декабря 2022. 16 июля 2022 года.
  10. Dr Ian Cutress. . anandtech.com . Дата обращения: 9 декабря 2022. 2 сентября 2020 года.
  11. . www.extremetech.com . Дата обращения: 9 декабря 2022. 22 сентября 2020 года.
  12. Nancy Cohen. (англ.) . Tech Xplore . Дата обращения: 9 декабря 2022. 22 ноября 2021 года.
  13. Patrick Moorhead. (англ.) . Forbes . Дата обращения: 9 декабря 2022. 8 декабря 2022 года.
  14. . web.archive.org (7 августа 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 7 августа 2022 года.
  15. (англ.) . PCGamesN . Дата обращения: 9 декабря 2022. 17 июня 2020 года.
  16. (англ.) . IEEE Spectrum (21 июля 2020). Дата обращения: 9 декабря 2022. 7 декабря 2022 года.
  17. Senior Editor. (англ.) . Macworld . Дата обращения: 9 декабря 2022. 20 апреля 2021 года.
  18. Anton Shilov published. (англ.) . TechRadar (31 августа 2020). Дата обращения: 9 декабря 2022. 20 апреля 2021 года.
  19. (англ.) . news.samsung.com . Дата обращения: 9 декабря 2022. 8 июля 2022 года.
  20. . web.archive.org (29 июля 2022). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 29 июля 2022 года.
  21. S. Horiguchi, T. Kobayashi, M. Miyake, M. Oda, K. Kiuchi. // 1985 International Electron Devices Meeting. — 1985-12. — С. 761–763 . — doi : . 20 января 2022 года.
  22. Qi Xiang, G. Yeap, D. Bang, Miryeong Song, K. Ahmed, E. Ibok, Ming-Ren Lin. // 1998 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers (Cat. No.98CH36216). — 1998-06. — С. 160–161 . — doi : . 20 января 2022 года.
  23. G.C.-F. Yeap, Q. Xiang, M. Song, K. Ahmed, D. Bang, E. Ibok, M.-R. Lin. // 56th Annual Device Research Conference Digest (Cat. No.98TH8373). — 1998-06. — С. 10–11 . — doi : . 21 января 2022 года.
  24. Frank Schwierz, Hei Wong, Juin J. Liou. . — Pan Stanford Publishing, 2010-02-28. — 349 с. — ISBN 978-981-4241-08-3 .
  25. H. Wakabayashi, S. Yamagami, N. Ikezawa, A. Ogura, M. Narihiro, K. Arai, Y. Ochiai, K. Takeuchi, T. Yamamoto, T. Mogami. // IEEE International Electron Devices Meeting 2003. — 2003-12. — С. 20.7.1–20.7.3 . — doi : . 22 ноября 2022 года.
  26. . web.archive.org (6 ноября 2012). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано из 6 ноября 2012 года.
  27. H. Lee, L.-E. Yu, S.-W. Ryu, J.-W. Han, K. Jeon, D.-Y. Jang, K.-H. Kim, J. Lee, J.-H. Kim, S. Jeon, G. Lee, J. Oh, Y. Park, W. Bae, H. Lee, J. Yang, J. Yoo, S. Kim, Y.-K. Choi. // 2006 Symposium on VLSI Technology, 2006. Digest of Technical Papers.. — 2006-06. — С. 58–59 . — doi : . 27 октября 2022 года.
  28. . web.archive.org (1 января 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 1 января 2019 года.
  29. . EE Times (28 июля 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 28 июля 2019 года.
  30. Ramish Zafar, Ramish Zafar. (англ.) . Wccftech (12 июня 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. 7 ноября 2020 года.
  31. (англ.) . TechSpot . Дата обращения: 9 декабря 2022. 19 декабря 2019 года.
  32. Lucian Armasu published. (англ.) . Tom's Hardware (6 декабря 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. 15 сентября 2022 года.
  33. Efe Udin. (англ.) . Gizchina.com (25 октября 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. 12 января 2020 года.
  34. Alan Friedman. (англ.) . Phone Arena . Дата обращения: 9 декабря 2022. 12 января 2020 года.
  35. . web.archive.org (18 апреля 2019). Дата обращения: 9 декабря 2022. Архивировано 18 апреля 2019 года.
  36. . www.extremetech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 15 сентября 2020 года.
  37. . web.archive.org (6 декабря 2019). Дата обращения: 10 декабря 2022. Архивировано 6 декабря 2019 года.
  38. Lucian Armasu published. (англ.) . Tom's Hardware (11 января 2019). Дата обращения: 10 декабря 2022. 15 сентября 2022 года.
  39. Lucian Armasu published. (англ.) . Tom's Hardware (25 мая 2017). Дата обращения: 10 декабря 2022. 15 сентября 2022 года.
  40. Ian Cutress. . www.anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 14 октября 2019 года.
  41. Dr Ian Cutress. . www.anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 12 января 2021 года.
  42. Niels Broekhuijsen published. (англ.) . Tom's Hardware (3 января 2020). Дата обращения: 10 декабря 2022. 15 сентября 2022 года.
  43. Anton Shilov. . www.anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 3 сентября 2020 года.
  44. Tom Dillinger. (англ.) . Semiwiki . Дата обращения: 10 декабря 2022. 16 октября 2022 года.
  45. . www.anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 декабря 2022 года.
  46. (англ.) . WikiChip Fuse (4 сентября 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 сентября 2022 года.
  47. (англ.) . news.samsung.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 8 июля 2022 года.
  48. . www.anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 8 ноября 2022 года.
  49. (кор.) . 전자부품 전문 미디어 디일렉 (28 июня 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 декабря 2022 года.
  50. SamMobile. (англ.) . SamMobile . Дата обращения: 10 декабря 2022. 27 июля 2022 года.
  51. (англ.) . SamMobile . Дата обращения: 10 декабря 2022. 27 июля 2022 года.
  52. (англ.) . GSMArena.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 26 июля 2022 года.
  53. (кор.) . news.samsung.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 декабря 2022 года.
  54. 우재연. (англ.) . Yonhap News Agency (25 июля 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 декабря 2022 года.
  55. (англ.) . www.businesswire.com (30 июня 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 10 декабря 2022 года.
  56. Lee Ji-yoon. (англ.) . The Korea Herald (25 июля 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 27 июля 2022 года.
  57. (рус.) . Дата обращения: 21 сентября 2023. 12 сентября 2023 года.
  58. Scotten Jones. (англ.) . Semiwiki . Дата обращения: 10 декабря 2022. 13 мая 2022 года.
  59. David Schor. (англ.) . WikiChip Fuse (5 июля 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. 12 декабря 2022 года.
  60. Alan Friedman. (англ.) . Phone Arena . Дата обращения: 10 декабря 2022. 23 августа 2022 года.
  61. (англ.) . TSMC (15 июля 2022). Дата обращения: 10 декабря 2022. Архивировано 15 июля 2022 года.
  62. Dr Ian Cutress. . anandtech.com . Дата обращения: 10 декабря 2022. 15 марта 2022 года.
Источник —

Same as 3 nm