Эффект Коанда
- 1 year ago
- 0
- 0
Эффект Дембера — явление в физике полупроводников , состоящее в возникновении электрического поля и ЭДС в однородном полупроводнике при его неравномерном освещении за счёт разницы подвижностей электронов и дырок.
Время установления стационарного значения ЭДС Дембера при постоянном освещении определяется временем установления диффузионно-дрейфового равновесия, близким к максвелловскому времени релаксации. Нестационарный эффект Дембера, вызываемый импульсным освещением, используется для генерации терагерцового излучения . Наиболее сильный эффект Дембера наблюдается в полупроводниках с узкой запрещенной зоной и высокой подвижностью электронов, например в InAs и InSb .
При освещении поверхности полупроводника светом с длиной волны, лежащей в области собственного поглощения, образование неравновесных электронов и дырок происходит в основном вблизи этой поверхности. Возникшие электроны и дырки диффундируют из области более освещаемой в более затемнённую. Коэффициент диффузии у электронов больше, чем у дырок, поэтому электроны быстрее распространяются от освещённого места. Пространственное разделение зарядов приводит к возникновению электрического поля, направленного от поверхности в глубь кристалла. Это поле тянет медленное облако дырок и замедляет быстрое облако электронов. В результате между освещённой и неосвещённой точками образца возникает ЭДС, получившая название ЭДС Дембера.
Величина ЭДС Дембера в отсутствие ловушек и без учёта поверхностной рекомбинации определяется формулой:
,
где — коэффициент диффузии электронов, — коэффициент диффузии дырок, — подвижность электронов, — подвижность дырок, — расстояние от освещаемой поверхности до места, где уже нет неравновесных носителей.
Используя обозначение и соотношение Эйнштейна , можно взять интеграл по , чтобы получить окончательное выражение для ЭДС:
.
Открыт немецким физиком X. Дембером (Н. Dember; 1931); теория разработана Я. И. Френкелем (1933), немецким физиком Г. Фрёлихом (1935), Е. М. Лифшицем и Л. Д. Ландау (1936).
В анизотропных кристаллах, если освещаемая поверхность вырезана под углом к кристаллографическим осям, появляется электрическое поле , перпендикулярное градиенту концентрации. ЭДС между боковыми гранями образца в этом случае равна
,
где — длина освещённой части образца.