Видимость графена на подложке является важным вопросом, который надо решить для нахождения графена . Так как графен получают, в основном, при помощи графита и впоследствии осаждают на подложку окисленного кремния (SiO ₂ /Si) без фиксации позиции на поверхности подложки, то необходимо сначала найти кусочки на поверхности. Поскольку графен имеет толщину всего в один атом важно выбрать наиболее благоприятные для поиска в оптический микроскоп условия (например, частоту волны света, толщину диэлектрика, угол наблюдения) .

Расчёт с использованием формул Френеля при учёте многократных отражений от границ раздела сред показал, что наиболее выгодными для использования в видимом диапазоне света являются толщины диэлектрика 100 нм и 300 нм . В настоящее время используются подложки кремния с толщиной диэлектрика 300 нм.

Несмотря на то, что толщина графена составляет один атом, оптические свойства свободного графена таковы, что его прозрачность определяется только постоянной тонкой структуры . (см. Постоянная тонкой структуры (графен) )

Примечания