Обратная фотоэмиссионная спектроскопия , сокр., ОФЭС ( англ. inverse photoelectron spectroscopy или k-resolved inverse photoemission spectroscopy сокр., KRIPS; IPES) — метод электронной спектроскопии для анализа структуры электронных состояний поверхности твёрдого тела.

Описание

В процессе обратной фотоэмиссии (см. рис. а) электрон с энергией eU попадает на поверхность твёрдого тела и заполняет возбужденное состояние E1 = eU , а затем переходит в более низкое незаполненное состояние E2 . Выделяющаяся при этом энергия уносится фотоном . Существуют два метода для регистрации спектра незаполненных состояний:

• изохромная спектроскопия (isochromate spectroscopy), в которой варьируется энергия первичных электронов, а измеряется выход фотонов с фиксированной энергией (рис. б);
• спектроскопия тормозного излучения (Bremsstrahlen spectroscopy), в которой энергия первичных электронов фиксирована, а регистрируется спектр испускаемых фотонов (рис. в).

Для определения закона дисперсии E(k) незаполненных электронных состояний в поверхностном слое твёрдого тела необходимо достаточно высокое угловое разрешение, которое достигается путем изменения направления пучка падающих электронов и использования перестраиваемого детектора фотонов.

Источник

• Оура К., Лифшиц В. Г., Саранин А. А. и др. Введение в физику поверхности / Под ред. В. И. Сергиенко. — М.: Наука, 2006. — 490 с.

Ссылки

• При написании этой статьи использовался материал из издания « Словарь нанотехнологических терминов » (2009—…), доступного по лицензии Creative Commons .