Interested Article - Ультрамикроскоп
- 2020-03-27
- 1
Ультрамикроскоп — оптический прибор для обнаружения частиц столь малых размеров, что их нельзя наблюдать в обычные микроскопы . В ультрамикроскоп наблюдаются не сами частицы, а большие по размерам пятна дифракции света на них. При сильном боковом освещении каждая частица выглядит как яркая точка на темном фоне. Ультрамикроскоп не дает оптические изображения исследуемых объектов. В зависимости от конструкции, параметров частиц и среды можно обнаружить частицы размерами от 0,02…0,05 до 1…5 мкм. Для взвеси металлических частиц в воде возможно обнаружение частиц размером 0,002 мкм. Пределы разрешения наиболее сильных оптических микроскопов составляют 0,2 мкм. Ультрамикроскопия является частным случаем метода темного поля в проходящем свете, при освещении направленном перпендикулярно направлению наблюдения.
Использование
Ультрамикроскопия позволяет определять концентрацию неоднородностей и изучать их природу. При необходимости определения их размеров используют нефелометрию . При этом в качестве параметра частицы в рамках дисперсионного анализа с помощью ультрамикроскопа или проточного ультрамикроскопа могут измерять интенсивность света, рассеянного отдельной частицей. Ультрамикроскоп может применятся не только для изучения частиц, которые не могут быть обнаружены микроскопом, но и для всех случаев когда важно число и движение частиц, а форма и их строение роли не играет.
Применяется при исследовании дисперсных систем , для контроля чистоты воздуха и воды и т. д.
Примером использования ультрамикроскопа для изучения наночастиц может служить метод анализа траекторий наночастиц .
Устройство
Работа ультрамикроскопа основана на эффекте Тиндаля . Щелевой ультрамикроскоп в 1903 году создали Генри Зидентопф и Рихард Зигмонди . Поточный ультрамикроскоп был разработан в 1940—1950-х годах Б. В. Дерягиным и Г. Я. Власенко.
Классификация
См. также
- Оптический микроскоп
- Сканирующий атомно-силовой микроскоп (AFM, SPM)
- Сканирующий туннельный микроскоп (STM)
- Сканирующий электронный микроскоп (SEM)
- Просвечивающий электронный микроскоп (TEM)
- Микроскоп ближнего поля (SNOM)
- Оптические системы
Примечания
- ↑ Ультрамикроскоп//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
- Микроскопия оптическая//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- Ультрамикроскопия//Химическая энциклопедия. Том 5. ТРИ — ЯТР —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
- Микроскоп оптический//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- Микроскоп оптический//Новый политехнический словарь —М.: Большая Российская энциклопедия, 2000
- ↑ Оптика неоднородных сред//Физическая энциклопедия. Том 3. Магнитоплазменный — Пойнтинга теорема —М.: Большая Российская энциклопедия, 1992
- Дисперсионный анализ//Химическая энциклопедия. Том 2. ДАФ — МЕД —М.: Большая Российская энциклопедия, 1990
- Дерягин Б.В., Власенко Г.Я. Поточная ультрамикроскопия//Природа N 11 ноябрь, 1953
- Тиндаля эффект//Физическая энциклопедия. Том 5. Стробоскопические приборы — яркость —М.: Большая Российская энциклопедия, 1998
- 2020-03-27
- 1